Ulusal Bilim Vakfı’nın Daniel K. Inouye Güneş Teleskobu, bir yılı aşkın süren gözlemlerin ardından devreye alma aşamasının ilk döngüsünü tamamladı. Bu önemli anı kutlamak için, gerçekleştirilen çalışmanın bazı önemli noktalarını gösteren yeni görseller yayınlandı.

Görseller, genellikle Güneş’in yüzeyi olarak adlandırılan bölge olan fotosfere odaklanıyor ve Güneş’in çoğunlukla sessiz olduğu bölgelerin yanı sıra daha aktif bölgeleri de gösteriyor. Daha sessiz olan bölgelerde, fotosferin parçalı yapısı görülebiliyor. Daha sıcak olan plazma, Güneş’in içinden yükselerek bu parçaların daha parlak noktalarını oluştururken, daha soğuk olan plazma yer değiştirerek her hücre arasında biraz daha koyu olan çizgiler oluşturuyor.

Ancak Güneş’in yüzeyinde gerçekten karanlık bölgeler görmek için ise güneş lekelerine bakmamız gerekiyor. Şu anda Güneş, etkinliğinin 11 yıllık döngüsü boyunca zirve yaptığı an olan solar maksimuma doğru ilerliyor. Aktivitenin artması ile beraber güneş lekelerinin sayısı da arttığı için, bu dönem güneş lekelerini aramak için mükemmel bir zaman oluyor. Hatta bazı güneş lekelerini tespit etmek için Inouye gibi bir teleskopa bile ihtiyacınız yok.

Inouye Güneş Teleskobu, dünyanın en büyük ve en güçlü teleskopudur, bu nedenle yalnızca çok ayrıntılı görüntüler elde etmekle kalmayarak, araştırmacıları neredeyse Güneş’in içine kadar taşıyabilir, en azından mecazi olarak… Güneş lekeleri, fotosferin, Güneş yüzeyinin geri kalanından biraz daha soğuk (birkaç bin derece kadar) olan alanlarıdır. Aradaki bu fark, güçlü manyetik alanlardan kaynaklanır. Güneş’in karmaşık manyetik alanı fotosferi yararak güneş lekesini oluşturur.

Güneş lekeleri, normal bir mıknatıs gibi bir kuzey ve güney kutbuna sahip olabilir veya diğer güneş lekeleriyle etkileşime girebilir. Oldukça karmaşık sistemler haline gelebilirler ve bazen etraflarında biriken manyetik enerji, güneş patlamaları ve koronal kütle fırlatmaları gibi patlayıcı olaylarda açığa çıkar. Bu olaylar, gezegenimizin etrafındaki uzay havasını değiştirip uyduları, elektrik hatlarını ve diğer teknolojileri etkileyebildikleri için çok tehlikeli olabilir.

Yayınlanan görüntüler, 1. döngüde yürütülen araştırmaların çok küçük bir kısmını temsil ediyor. Devreye alma aşaması, cihazları kalibre etmenin ve test etmenin bir yolu olsa da, son derece gelişmiş araştırmalar da yürütülüyor.

Kaynak: Chip